回路電阻的測量

主回路

為了把做過(guò)溫升試驗(型式試驗)的開(kāi)關(guān)設備和控制設備與所有進(jìn)行出廠(chǎng)試驗的同一型號的開(kāi)關(guān)設備和控制設備進(jìn)行比較，應該進(jìn)行主回路電阻的測量。

應用直流測量每極端子間的電壓降或電阻。對于封閉開(kāi)關(guān)設備和控制設備應該作特殊考慮。

試驗電流應該取100A至額定電流之間的任一電流值。

注：經(jīng)驗表明，僅憑主回路電阻增大不能認為是觸頭或聯(lián)結不好的可靠證據。此時(shí)，應該使用更大的電流(盡可能接近額定電流)重復進(jìn)行試驗。

直流電壓降或電阻應在溫升試驗前在開(kāi)關(guān)設備和控制設備所處的周?chē)諝鉁囟认逻M(jìn)行一次測量；溫升試驗后，當開(kāi)關(guān)設備和控制設備冷卻到周?chē)諝鉁囟葧r(shí)再測量一次，兩次所測得的電阻值的差不應大于20%。

型式試驗報告中應給出直流電壓降或電阻的測量值，以及試驗時(shí)的一般條件(電流、周?chē)諝鉁囟取y量部位等)。

輔助回路

1級和2級輔助觸點(diǎn)電阻的測量

將1級和2級輔助觸點(diǎn)的每種類(lèi)型的一個(gè)樣品接入阻性負載回路，然后加上開(kāi)路電壓為6V(相對偏差為-15%)的直流電源，使其流過(guò)10mA的電流，按GBT5095.2-1997的試驗2b測量其電阻。

閉合的1級和2級輔助觸點(diǎn)的電阻不應超過(guò)50。

注：觸頭材料出現的氧化可能會(huì )降低有效的載流能力，因此可能導致接觸電阻的增加，甚至在非常低的電壓回路中不能導通，而在較高的電壓回路中又沒(méi)有出現問(wèn)題。

本試驗的目的是為了檢驗在這些低電壓條件下觸頭的接觸性能。評估的判據考慮了電阻的非線(xiàn)性。50的數值源于統計數據并已被用戶(hù)接受。

3級輔助觸點(diǎn)電阻的測量

將3級輔助觸點(diǎn)的一個(gè)樣品接入阻性負載回路，然后加上開(kāi)路電壓≤30mV的直流電源，使其流過(guò)≤10mA 的電流，按正IEC61810-7測量其電阻。